Huis > Nieuws > Inhoud

Technische conferentie van NANO metrologie

Nano (Xi'an) Metrology Co., Ltd. | Updated: Nov 07, 2016
Source:


NANO metrologie zal het houden van de technische conferentie over 9thNovember Welkom op bezoek en communiceren.

Voor NANO, 2016 is een precisie-jaar vol opwinding en uitdaging, wij hopen dat door deze conferentie die we kunt bekijken met u op hetzelfde moment worstelen, discussiëren over de toekomst en win-win innovatie business schaal uitbraak. Wij zullen op de manier om verder te gaan, langere, meer briljant.


Informeer ons als u vragen heeft of advies

E-mail:Overseas@CMM-nano.com


Onderzoek
Your comments are welcome!
For more information about our brand and products, please feel free to contact us!
Please enter your email address:
Neem contact met ons op
Address: No.55, Gongye No.2 Road, Xi'an National Civil Aerospace Base, Xi'an City, de provincie Shaanxi, China
Tel: +862981538937
Fax: +862989233633
E-mail: overseas@cmm-nano.com
Copyright © Nano (Xi'an) Metrology Co., Ltd Alle rechten voorbehouden.