Huis > Nieuws > Inhoud

NANO Metrologie zal de DMC2017 in Shanghai bijwonen

Nano (Xi'an) Metrology Co., Ltd. | Updated: Jun 07, 2017
Source:


Nano Metrology verwelkomen u om onze stand te bezoeken. Wij geven u de beste ervaring voor meting en verversen uw kijk op CMM . Meer details over de tentoonstelling:


Tentoonstelling Naam: DMC2017

Tentoonstellingsdatum: 6/13 / 2017--6 / 16/2017

Tentoonstelling Booth: E2-B170

Tentoonstelling Adres: NO.2345, Longyang Road, Pudong New Area, Shanghai

Nano tentoonstelling Layout

1.png


Tentoonstellingsruimte Kaart


new.jpg






Onderzoek
Your comments are welcome!
For more information about our brand and products, please feel free to contact us!
Please enter your email address:
Neem contact met ons op
Address: No.55, Gongye No.2 Road, Xi'an National Civil Aerospace Base, Xi'an City, de provincie Shaanxi, China
Tel: +862981538937
Fax: +862989233633
E-mail: overseas@cmm-nano.com
Copyright © Nano (Xi'an) Metrology Co., Ltd Alle rechten voorbehouden.